所以通過沙塵試驗(yàn)箱就能夠模擬各種沙塵侵入的場景，通過對電子芯片進(jìn)行沙塵試驗(yàn)，可以很好的找到電子芯片的設(shè)計防護(hù)缺陷。
  
　　電子芯片的防塵測試主要研究不同顆粒大小的沙塵粒對電子芯片造成的影響。試驗(yàn)的目的一是檢測電子產(chǎn)品的外殼對內(nèi)部芯片及其他元件的防護(hù)情況，二是想要了解粉塵侵入對芯片的影響，以及是否會發(fā)生短路起火的現(xiàn)象。通過沙塵試驗(yàn)箱來制造不同溫度、濕度的環(huán)境，并使用不同的沙塵濃度來對電子芯片進(jìn)行測試。
 
        在對電子芯片進(jìn)行防塵測試時，一般采用常規(guī)灰塵顆粒大小的粉塵作為試驗(yàn)源。電子芯片要求的防塵等級一般在IP5或者IP6，旨在 防護(hù)粉塵的進(jìn)入，或者粉塵進(jìn)入以后不影響芯片元件的正常運(yùn)行。一般對于電子芯片的防塵測試，都是以IP6 高等級的防護(hù)來進(jìn)行的，因?yàn)樯硥m堆積過多，會造成電子芯片的損害，所以 絕塵才是 好的防護(hù)方式。